AMD年初正式发布了代号Strix Halo的高端笔记本处理器，其中旗舰型号锐龙AI Max+ 395集成的核显Radeon 8060S拥有多达40个RDNA3.5架构单元、2.9GHz高频率，妥妥史上最强，锐龙AI Max 390/385集成的Radeon 8050S也有32个单元。

按照AMD的说法，Radeon 8060S已经超过了满血版的移动版RTX 4060，甚至超过功耗释放受限的移动版RTX 4070 Max-Q。

AMD史上最强核显跑分凶猛！未来必超移动版RTX 4060

Strix Halo笔记本的性能还没有解禁，完整性能表现还得等等，不过已经有网友曝光了ES工程样品的跑分。

具体笔记本型号未知，从截图上可以看到处理器样品的编号为100-000001243-50，也就是旗舰锐龙AI Max+ 395，只是核显误识别为Radeon 8050S。

根据这份泄露，Radeon 8060S 3DMark Time Spy的图形得分为10106，稍稍低于移动版RTX 4060——平均成绩为10425。

AMD史上最强核显跑分凶猛！未来必超移动版RTX 4060

按照AMD核显的传统，后续驱动优化到位，必然可以轻松超过移动版RTX 4060。

同时，它也远远领先AMD自己的移动版RX 7600M XT——32单元RDNA3，8742分，并非常接近桌面版RX 7600——10990分。

Strix Halo笔记本的解禁时间尚不清楚，估计最快3月份。等吧。

AMD史上最强核显跑分凶猛！未来必超移动版RTX 4060

NVIDIA方面，RTX 50系列不仅是5090、5080这样的高端型号缺货，连入门显卡也要面临芯片短缺，量产推迟的情况。

天风证券分析师郭明錤表示，RTX 50系游戏显卡整体将面临芯片供应问题，这不仅会导致已经发售的RTX 5090/5080出现缺货的现象，而且很可能会影响到该系列的后续产品。

据郭明錤推测，RTX 5070、5060的量产时间可能会从原定的2月和3月延后到3月和4月，即使能够准时进行量产，也会因为数量不足导致开卖即缺货。

此前，根据显卡制造商ChainTech的说法，RTX 50系列的入门型号RTX 5060 Ti、5060原计划将于3月上市。中端型号RTX 5070 Ti、5070则会在2月推出。

目前，全球范围内的 RTX 50系列显卡都面临供应紧张的局面，买到算是运气好。

而且库存方面的困境在短期内不太可能得到缓解，许多在线零售商现在都已不提供现货，或通过涨价的方式来降低用户的购买需求。

此前，日本的一家零售商甚至采用了抽签购买的形式，但依旧无法阻止上百人的排队现象。

不知道NVIDIA的缺货，会不会给AMD的9070系列带来更多机会。

最便宜的50系列显卡跳票！RTX 5060开卖即缺货芯片缺到家了

再说说RTX 5090电源接口烧毁问题，知名高定PC厂商Falcon Northwest在测试了各种线材和电源之后得出结论——无法复现！

“非常尊重@der8auer的测试，但我们无法复现。我们测试了许多RTX 5090公版卡，也试了多种电源和线材类型，甚至经历了几天的封闭机箱老化测试。所有12根电线的温度和电流都是达标的。”

RTX 5090电源口烧毁原因成谜！实测无法复现：各种线、电源都试了

此前，博主@der8auer 发现使用FurMark烤机测试发现，RTX 5090电源线出现了明显的电流不均匀现象，至少其中一条线的电流超过了22A，是其9.5A额定值的两倍多。

红外成像下可以看到，几条线的温度也截然不同，在显卡接口附近的，电流最高的那根线，最高竟然达到了151℃，长时间运行必然过热，而低电流的线温度还不到30℃。

RTX 5090电源口烧毁原因成谜！实测无法复现：各种线、电源都试了

早些时候，Reddit论坛用户ivan6953晒出的RTX 50系列公版首例电源接口烧融事件引发关注。

据透露，他使用了第三方旧款的12VHPWR，没用显卡随附的更新、更安全的12V-2x6电源线，最终导致价值1999美元（约合1.46万元人民币）的新显卡坏掉。

该玩家表示，自己并不是DIY小白，电源线已经插紧。他从RTX 4090公版升级到RTX 5090公版，使用的是Moddiy制作的第三方电源线，这款电源线先前已搭配RTX 4090创始版并使用2年，搭配的电源是华硕的ROG Loki SFX-L。

ivan6953称，他在玩《战地风云5》的时候突然闻到烧焦味，立刻关闭电脑，随后检查电源线和显卡时发现一股“融化”的味道。

一位用户推测问题可能出在电源线或GPU连接上，因为RTX 5090公版卡的直角连接器将六根线组合成一个引脚。因此，GPU无法将电压负载均匀地分布在所有引脚上。

由于电流总是走电阻最小的路径，因此连接器或线材本身的缺陷可能会导致过热和烧毁。然而，这只是猜测，必须在实验室条件下进行测试才能证实。

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